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里氏硬度計(jì)
洛氏硬度計(jì)
布氏硬度計(jì)
維氏硬度計(jì)
邵氏硬度計(jì)
粗糙度儀
涂層測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀
超聲波探傷儀
磁粉探傷儀
渦流探傷儀
鋼絲繩探傷儀
紫外線探傷燈/黑光燈
便攜式測(cè)振儀
紅外測(cè)溫儀
便攜式測(cè)力計(jì)
便攜式校驗(yàn)儀
附著力檢測(cè)儀
電火花檢漏儀
工業(yè)內(nèi)窺鏡
公路建筑儀器
泄漏檢測(cè)儀器
激光測(cè)量?jī)x器
材料分析儀器
氣體檢測(cè)儀器
環(huán)保分析儀器
電力檢測(cè)儀器
表面涂裝檢測(cè)設(shè)備
金相制樣
三豐量具 量?jī)x
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
精密天平
國(guó)內(nèi)無損檢測(cè)儀器
時(shí)代焊機(jī)
時(shí)代山峰
菲德勒Fiedler
美國(guó)Defelsko
美國(guó)DAKOTA
德國(guó)QNIX
德國(guó)FISCHER
德國(guó)EPK
英國(guó)Elcometer
德國(guó)PHYNIX
日本三豐
美國(guó)GE-貝克休斯
美國(guó)OLYMPUS
日本理音RION
荷蘭TQC SHEEN
韓國(guó)京都
捷克諾頓
美國(guó)磁通
瑞典SKF
美國(guó)G&R
德國(guó)K.K
德國(guó)希爾思
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德國(guó)馬爾
德國(guó)PCE
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日本AND
日本日立
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英國(guó)雷迪
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英國(guó)信固
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美國(guó)哈希
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德國(guó)歐普士
瑞士Leica
主營(yíng)產(chǎn)品:
里氏硬度計(jì)
涂層測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀
粗糙度儀
超聲波探傷儀
便攜式測(cè)振儀
電火花檢漏儀
氣體檢測(cè)儀
便攜式內(nèi)窺鏡
激光測(cè)徑儀
產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號(hào)
產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
鐵素體含量測(cè)試儀
FERITSCOPE? DMP30
菲希爾FERITSCOPE® DMP30 可以可靠、接觸式和非破壞性的方式測(cè)量鐵素體/鐵氧體含量。磁感應(yīng)法的物理原理根據(jù)Basler標(biāo)準(zhǔn)和DIN EN ISO 17655的要求,采用磁感應(yīng)法可以快速、無損地測(cè)量鐵素體含量。例如,可以在現(xiàn)場(chǎng)檢查奧氏體鋼的焊縫,并必要時(shí)進(jìn)行修補(bǔ)。
涂鍍層測(cè)厚儀
DMP10-20-30-40
DMP10-DMP20-DMP30-DMP40的便攜性、功能使其具有足夠的通用性,可用于廣泛的應(yīng)用。這些靈活的設(shè)備是接觸式和非破壞性測(cè)量鐵基材和有色金屬基材上涂層厚度的解決方案。為此,我們有適合您需求的型號(hào)選擇:ISOSCOPE®、DELTASCOPE® 或 DUALSCOPE®。
DUALSCOPE? FMP40涂鍍層測(cè)厚儀
FMP40
DUALSCOPE® FMP40涂鍍層測(cè)厚儀由于采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法,且具有自動(dòng)識(shí)別基材的功能,這臺(tái)通用型儀器可以測(cè)量鐵/鋼上、非磁性金屬基材上和非導(dǎo)電基材上眾多涂鍍層的厚度。
FMP30涂層測(cè)厚儀
FMP30
FMP30涂層測(cè)厚儀分為兩種:DELTASCOPE® FMP30用于測(cè)量非磁性涂鍍層例如:鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。ISOSCOPE® FMP30用于測(cè)量油漆或塑料在非磁性金屬基材上的厚度;用于測(cè)量鋁基材上陽(yáng)極氧化層的厚度,也用于測(cè)量導(dǎo)電層在非導(dǎo)電基材上的厚度。
DUALSCOPE? FMP20涂鍍層測(cè)厚儀
FMP20
DUALSCOPE® FMP20涂鍍層測(cè)厚儀由于采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法,且具有自動(dòng)識(shí)別基材的功能,這臺(tái)通用型儀器可以測(cè)量鐵/鋼上、非磁性金屬基材上和非導(dǎo)電基材上眾多涂鍍層的厚度。DUALSCOPE® FMP20 使用帶曲率補(bǔ)償功能的探頭(Fischer)。
FMP10涂層測(cè)厚儀
DELTASCOPE? FMP10
FMP10涂層測(cè)厚儀分為DELTASCOPE® FMP10用于測(cè)量非磁性涂鍍層例如:鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。ISOSCOPE® FMP10用于測(cè)量油漆或塑料在非磁性金屬基材上的厚度;用于測(cè)量鋁基材上陽(yáng)極氧化層的厚度,也用于測(cè)量導(dǎo)電層在非導(dǎo)電基材上的厚度。
DUALSCOPE? MPOR USB 涂層測(cè)厚儀
DUALSCOPE? MPOR USB
DUALSCOPE® MPOR USB 涂層測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360,ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178,ASTM B499電磁感應(yīng)方法,被用來測(cè)量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。儀器能自動(dòng)地識(shí)別被測(cè)材料并選擇適合的測(cè)試方法。
MPO/MP0 涂鍍層測(cè)厚儀
MPO/MP0
MPO/MP0 涂鍍層測(cè)厚儀:DUALSCOPE®MPOR 涂鍍層測(cè)厚儀,有名:D-MPOR型兩用涂層測(cè)厚儀,DUALSCOPE MP0R涂層測(cè)厚儀,Helmut-Fischer膜厚儀 MP0R,雙屏幕顯示,磁性和渦流兩用型德國(guó)FISCHER涂層測(cè)厚儀。大量程:0~2000μm。MPO/MP0 涂鍍層測(cè)厚儀高精度,分辨率:0.00um;低功耗:60秒自動(dòng)關(guān)機(jī),測(cè)量自動(dòng)開機(jī)出值等功能。
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