SV-2100表面粗糙度儀利用配備的簡單輸入功能，可按照ISO/JIS粗糙度標準的繪圖指令符號進行輸入。以往非常麻煩的測量條件設置如今可輕松輸入，從菜單上直接選取表面粗糙度的繪圖指令符號即可。
特點
顯示一目了然，操作簡單。
配備高可見度7.5英寸TFTLCD屏幕。彩**標顯示、觸控式面板，顯示更清晰，操作更簡單。
輕松定位使用專用控制器內置的操縱桿，輕松、快速地定位。小孔內側的測量，需要對微小測頭進行微調。利用手動手柄，實現(xiàn)輕松微調。
輕松設置表面粗糙度的測量條件。利用配備的簡單輸入功能，可按照ISO/JIS粗糙度標準的繪圖指令符號進行輸入。以往非常麻煩的測量條件設置如今可輕松輸入，從菜單上直接選取表面粗糙度的繪圖指令符號即可。
技術參數(shù):SV-2100
X軸(驅動部)
測量范圍:100mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:線性編碼器
驅動速度:0-40mm/s
測量速度:0.02-5mm/s
移動方向:向后
直線度:0.15μm/100mm
Z2軸(立柱)
類型:手動操作或電驅動
垂直移動:350mm或550mm*
分辨率*:1μm
檢測方法*:旋轉編碼器
驅動速度*:0-20mm/s
*僅適于電驅動型
檢測器
范圍／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm
檢測方法:無軌／有軌測量
測力:4mN或0.75mN(低測力型)
測針針尖:金剛石、90o/5μmR
(60o/2μmR:低測力型)
導頭曲率半徑:40mm
檢測方法:差動電感式
控制器
顯示:7.5"帶背光的TFT彩顯
打印機:內置熱敏打印機
放大倍率:水平:X10至X500,000、自動
垂直:X0.5至X10,000、自動
驅動裝置的控制:通過操縱桿手動手柄的操作
評估能力
評估輪廓
P(主輪廓),R(表面粗糙度輪廓),WC,WCA,WE,WEA,包絡
殘余線、粗糙度motif、波形motif
評估參數(shù)
Ra,Rc,Ry,Rz,Rq,Rt,Rmax,Rp,Rv,R3z,Sm,S,Pc,mr(c),?c,mr,
tp,Htp,Lo,Ir,Ppi,HSC,?a,?q,Ku,Sk,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,
A1,A2,Vo,?a,?q
粗糙度motif參數(shù):R,AR,Rx
波形motif參數(shù):W,AW,Wx,Wte
分析圖表
ADC,BAC,功率譜圖
數(shù)顯濾波器
2CR-75%,PC-75%、高斯濾波器、魯棒樣條
截止波長
0.25μm,0.8μm,2.5μm,8μm,25μm,250μm、無濾波器
0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm
0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm、無濾波器
采樣長度(L)*
0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm,80mm
(僅適于SV-2100)
數(shù)據(jù)補償功能
拋物線補償、雙曲線補償、橢圓補償、R平面(曲面)
補償、錐面補償、傾斜補償
*在0.02mm至50mm的范圍內可指定任意長度。
性能參數(shù)：
型號 |
SV-2100M4
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SV-2100M4
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貨號*(mm)
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178-636-01
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178-636-02
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貨號*(inch)
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178-637-01
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178-637-02
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檢測器測力
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0.75mN
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4mN
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X軸測量范圍
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100mm
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垂直移動
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350mm電動立柱
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花崗巖基座尺寸(WxD)
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600x450mm
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尺寸(主機、WxDxH)
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716x450x863mm
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重量
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144kg
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