產(chǎn)品[
XT-50 沖擊試樣缺口投影儀
]資料
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產(chǎn)品名稱:
XT-50 沖擊試樣缺口投影儀
產(chǎn)品型號:
XT—50
產(chǎn)品展商:
其他品牌
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡單介紹
XT-50 沖擊試樣缺口投影儀,執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響終的試驗結(jié)果。為保證試樣缺口的合格，其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段，目前，用光學(xué)投影放大檢驗是切實可行的方法。
XT-50 沖擊試樣缺口投影儀
的詳細(xì)介紹
一、概述
隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格，其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段，目前，用光學(xué)投影放大檢驗是切實可行的方法。
XT-50 沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點是操作簡便，對比直觀。
二、工作原理：
本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。
根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一致。
三、主要參數(shù)：
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投影屏直徑：
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180mm
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工作臺尺寸：
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方工作臺尺寸：
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110×125mm
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圓工作臺直徑：
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90mm
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工作臺玻璃直徑：
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70mm
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工作臺行程：
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縱向：
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± 10mm
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橫向：
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± 10mm
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升降：
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± 12mm （無刻度）
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工作臺轉(zhuǎn)動范圍：
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0-360 °（無刻度）
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放大倍數(shù)：
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儀器放大倍率：
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50X
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物鏡放大倍率：
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2.5X
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投影物鏡放大倍率：
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20X
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光源（鹵鎢燈）：
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12V 100W
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外形尺寸：
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515 ×224×603mm（長×寬×高）
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重量：
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約18Kg
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