主營(yíng)產(chǎn)品:里氏硬度計(jì)涂層測(cè)厚儀超聲波測(cè)厚儀粗糙度儀超聲波探傷儀便攜式測(cè)振儀電火花檢漏儀氣體檢測(cè)儀便攜式內(nèi)窺鏡激光測(cè)徑儀
          產(chǎn)品[

          CT LT 測(cè)中低溫微型探頭紅外測(cè)溫儀

          ]資料
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          產(chǎn)品名稱: CT LT 測(cè)中低溫微型探頭紅外測(cè)溫儀
          產(chǎn)品型號(hào): CTLT20/CTLT15/CTLT02
          產(chǎn)品展商: 德國(guó)歐普士
          產(chǎn)品文檔:
           歐普士紅外測(cè)溫在線式產(chǎn)品系列手冊(cè)
           CTLT 測(cè)中低溫微型探頭紅外測(cè)溫儀產(chǎn)品技術(shù)參...


          簡(jiǎn)單介紹
          CT LT 測(cè)中低溫微型探頭紅外測(cè)溫儀, 中低溫測(cè)量常用產(chǎn)品,性能可靠、功能齊全、探頭輕巧、安裝方便、擴(kuò)張性強(qiáng),探頭和電子盒均可更換。 CTLT20/CTLT15/CTLT02CT LT 測(cè)中低溫微型探頭紅外測(cè)溫儀測(cè)量量程:-40~900℃(CTLT20)、-40~600℃(CTLT15\CTLT02)光譜響應(yīng):8~14μm響應(yīng)時(shí)間:150ms(95%)光學(xué)分辨率:22:1、15:1、2:1

          CT LT 測(cè)中低溫微型探頭紅外測(cè)溫儀

          的詳細(xì)介紹

          CT LT 測(cè)中低溫微型探頭紅外測(cè)溫儀
          中低溫測(cè)量常用產(chǎn)品,性能可靠、功能齊全、探頭輕巧、安裝方便、擴(kuò)張性強(qiáng),探頭和電子盒均可更換。 

          測(cè)量量程:-40~900℃(CTLT20)、-40~600℃(CTLT15\CTLT02)
          光譜響應(yīng):8~14μm
          響應(yīng)時(shí)間:150ms(95%)
          系統(tǒng)精度:1%+-1℃
          光學(xué)分辨率:22:1(CTLT20)、15:1(CTLT15)、2:1(CTLT02)
          不銹鋼傳感頭以及聚四氟乙烯電纜可以用于高達(dá)180℃的環(huán)境溫度
          分離式電子變送盒,通過(guò)按鍵和帶有背光LCD顯示的智能操作面板,可以方便的設(shè)置和調(diào)節(jié)參數(shù)
          完善的模擬輸出,多種數(shù)據(jù)接口模塊可選
          組件式聚焦透鏡,靈活配置

          其他型號(hào)參考

          CT 1M/2M 測(cè)高溫微型探頭紅外測(cè)溫儀

          極高性價(jià)比的高溫測(cè)量產(chǎn)品。性能可靠、功能齊全、擴(kuò)張性強(qiáng)、探頭輕巧且能耐高溫,適用于設(shè)備配套。
          測(cè)量量程:250~1800℃(分段)
          光譜響應(yīng):1.0μm(1M)、1.6μm(2M)
          響應(yīng)時(shí)間:1ms(90%)

          光學(xué)分辨率:40:1、75:1
          當(dāng)今世界小紅外傳感頭,直徑14mm和28mm的長(zhǎng)度適合于狹小空間
          小可測(cè)量1.8mm的小目標(biāo)
          探頭堅(jiān)固且在125℃的環(huán)境溫度下工作而無(wú)需冷卻
          分離式電子變送盒,帶有易于調(diào)節(jié)的程序按鍵和帶有背光 的LCD顯示窗口
          通過(guò)RS485可將32個(gè)傳感頭組網(wǎng)
           

          CT 3M 測(cè)低溫短波長(zhǎng)微型探頭紅外測(cè)溫儀

          采用2.3μm短波段的探測(cè)器,適用于測(cè)量金屬的二次加工、金屬氧化物以及陶瓷材料。
          測(cè)量范圍覆蓋50~600℃,微型探頭設(shè)計(jì)
          采用2.3μm短波段的探測(cè)器,適用于金屬和陶瓷材料加工
          可以測(cè)量50℃以上的金屬表面溫度
          短波段的探測(cè)器可以有效降低發(fā)射率設(shè)置導(dǎo)致的測(cè)量偏差
           

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